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脉冲测试仪在使用中有哪些注意点?

  脉冲测试仪是一种能够减少器材总能耗的测量技能。它经过减少焦耳热效应(例如I2R和V2/R),避免对小型纳米器材可能造成的损坏。脉冲测试仪采用足够高的电源对待测器材(DUT)施加距离很短的脉冲,发生高品质的可测信号,然后去掉信号源。

  经过脉冲测试仪,工程技能人员能够获得更多的器材信息,更准确地分析和把握器材的行为特征。例如,利用脉冲测试仪仪技能能够对纳米器材进行瞬态测验,确认其转移函数,然后分析待测材料的特征。

  为安全起见,请阅读本说明书,并正确使用脉冲测试仪。使用中请注意以下几点:

  (1)当手潮湿或相对湿度超越75%时,请不要使用脉冲测试仪。

  (2)因为有高压脉冲加到接线端子(Surge out),如果转换接线,务必要在确认高压电源处于断开状态(H.V.OFF灯亮,数字电压表指示为0)才能进行。

  (3)尽管操作脉冲测试仪时,很少遇到电击,但为安全起见,在操作时不要进食,避免偶然因电击引起的进食阻塞。

  (4)用脉冲测试仪做试品的抗干扰实验时,要注意须将脉冲测试仪的接地端子与试品的接地端子接地良好。

  (5)内带高压,请勿随意拆卸或敞开机壳工作。

  脉冲测试仪测量对于具有恒温约束的器材也是必需的,例如SOI器材、FinFET和纳米器材,能够避免自热效应,避免自热效应掩盖研究人员所关心的响应特征。器材工程师还能够利用脉冲测试仪技能分析电荷抓获效应。在晶体管敞开后电荷抓获效应会降低漏极电流。随着电荷逐步被抓获到栅介质中,晶体管的阈值电压因为栅电容内建电压的升高而增大;然后漏极电流就降低了。