脉冲测试仪起到什么作用呢？

　　脉冲测试仪是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它经过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能构成的损坏。脉冲测试仪采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

　　经过脉冲测试仪，工程技术人员能够获得更多的器件信息，更准确地分析和掌握器件的行为特征。例如，使用脉冲测试仪技术能够对纳米器件进行瞬态检验，确认其转移函数，然后分析待测材料的特征。脉冲测试仪测量关于具有恒温约束的器件也是必需的，例如SOI器件、FinFET和纳米器件，能够避免自热效应，避免自热效应掩盖研讨人员所关心的照应特征。

　　器件工程师还能够使用脉冲测试仪技术分析电荷抓获效应。在晶体管开启后电荷抓获效应会下降漏极电流。跟着电荷逐渐被抓获到栅介质中，晶体管的阈值电压由于栅电容内建电压的升高而增大；然后漏极电流就下降了。

　　脉冲测试仪为人们和研讨纳米材料、纳米电子和现在的半导体器件供给了一种重要方法。脉冲测试仪有两种不同的类型：加电压脉冲和加电流脉冲。

　　电压脉冲测试仪产生的脉冲宽度比电流脉冲测试仪窄得多。这一特性使得电压脉冲测试仪更适合于热传输实验，其间咱们所关心的时间窗口只要几百纳秒。